Procedendo con la definizione delle fasi di lavorazione di una scheda, è possibile individuare guasti ed anomalie delle schede da riparare, attraverso il campionamento dei dati ottenuti solamente da campioni di schede funzionanti dello stesso modello, release o  part number.

Test A.S.A.

I dati campionati e memorizzati vengono confrontati in test su circuito a freddo A.S.A. ( Analog Signature Analisys).
I test A.S.A. sono possibili con diverse tipologie di schede elettroniche che montano componentistica PLCCs, SOIC, PGA, SSOP, QFP ed altri.

Huntron Protrack Prober II

Con sistemi Huntron Protrack Prober II si eseguono test A.S.A. (Analog Signature Analisys) di ricerca guasto in circuito a freddo.
L’utilizzo di questi sistemi testa e memorizza una scheda campione funzionante di riferimento e permette lo studio su schede con componenti PLCCs, SOICs, PGA, SSOP, QFP ed altri.
L’utilizzo dei dati raccolti serve da confronto con quelli delle schede guaste.

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