Procediendo con la definición de las fases de elaboración de una tarjeta, es posible identificar averías y anomalías de las tarjetas a reparar, mediante el muestreo de los datos obtenidos solamente de muestras de tarjetas funcionantes del mismo modelo, release o número de pieza (part number).

Test A.S.A.

Los datos muestreados y memorizados se comparan en tests sobre circuito en frío A.S.A. ( Analog Signature Analisys).Los tests A.S.A. son posibles con varios tipos de tarjetas electrónicas en que están montados componentes PLCCs, SOIC, PGA, SSOP, QFP y otros.

Huntron Protrack Prober II

Con sistemas Huntron Protrack Prober II se efectúan tests A.S.A. (Analog Signature Analisys) de búsqueda de averías en circuito en frío.
Con el uso de estos sistemas se comprueba y memoriza una tarjeta de muestra funcionante de referencia y esto permite el examen de tarjetas con componentes PLCCs, SOICs, PGA, SSOP, QFP y otros.
Los datos recogidos se comparan con los de las tarjetas averiadas.

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